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74HC373 Datasheet, PDF (7/9 Pages) NXP Semiconductors – Octal D-type transparent latch; 3-state
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DEVICE
UNDER
TEST
TEST POINT
OUTPUT
CL*
*Includes all probe and jig capacitance
Figure 5.
74HC373
TEST CIRCUITS
DEVICE
UNDER
TEST
TEST POINT
OUTPUT
1 kW
CL*
CONNECT TO VCC WHEN
TESTING tPLZ AND tPZL.
CONNECT TO GND WHEN
TESTING tPHZ AND tPZH.
*Includes all probe and jig capacitance
Figure 6.
D0
3
DQ
D1
4
DQ
D2
7
DQ
D3
8
DQ
D4
13
DQ
D5
14
DQ
D6
17
DQ
D7
18
DQ
LE
LE
LE
LE
LE
LE
LE
LE
11
1
2
5
6
9
12
15
16
19
Q0
Q1
Q2
Q3
Q4
Q5
Q6
Q7
Figure 7. EXPANDED LOGIC DIAGRAM
http://onsemi.com
7
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