SMD3225-26 Datasheet, PDF (5/5 Pages) Shenzhen Luguang Electronic Technology Co., Ltd – SPECIFICATION REQUREMENTS FOR CRYSTAL

26.0000MSMD3225
HIGH-LOW TEM. HIGH TEM:125℃±2℃,1000hrs
10
STORAGE(STATIC) 高温:125℃±2℃,1000 小时
高低温储存（静态测 LOW TEM:-40℃±3℃,1000hrs
试）
低温:-40℃±3℃,1000 小时
F/F≤±5ppm
△ F/Rr ≤ ± 10% or 2 Ω
BETTER,20%
11
HIGH TEM. &
HUM. STORAGE
TEST
高温高湿储存试验
TEM:40℃±2℃ HUM:83%-88%,96hrs
温度:40℃±2 湿度:83%-88% ,储存 96
小时
F/F≤±5ppm
△ F/Rr ≤ ± 10% or 2 Ω
BETTER,20%
12
TEM. & HUM.
CYCLING TEST
温湿度循环测试
TEM:-10℃±2℃～65℃±2℃ 24hrs 1
cycle' HUM:93±3% 5 cycles
温度:-10℃±2℃～65℃±2℃,湿度:93±
3%, 24 小时为 1 循环, 运行 5 个循环
F/F≤±5ppm
△ F/Rr ≤ ± 10% or 2 Ω
BETTER,20%
13
HIGH-LOW TEM.
OPERATING TEST
高-低温运行测试
HIGH TEM:85℃±2℃,2hrs
高温:85℃±2℃,运行 2 小时
LOW TEM:-30℃±2℃,2hrs
低温:-30℃±2℃运行 2 小时
F/F≤±5ppm
△ F/Rr ≤ ± 10% or 2 Ω
BETTER,20%
14
FREQUENCY/Rr
V.S OPERATING
TEM..
频率/电阻在操作温
度下之变化测试
TEM:-10 ℃ ～ +60 ℃ 、 -20 ℃ ～ +70 ℃ 、
0℃～70℃ 'MEASURE POINT: EVERY
10℃ DEVIATION.
温度:-10℃～+60℃、-20℃～+70℃
0℃～70℃
AS SPECIFICATION
依客户要求
测试点:依每 10℃测试一值
15
1. 150℃ 60--120Sec Max
HIGH LOW SHOCK
2. 200℃ 20--30Sec Max
高低温冲击
3. 260℃ 10Sec Max
260℃ MAX
150 ±
5℃
120 SEC
SPECIFICATION
规格说明:
△F/F≤±5ppm
10 SEC
△F/Rr≤±10% or 2Ω BETTER,20%
.
Revision:20160808-P1
http://www.lgesemi.com
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